NanoSensors原子力探针/标样
NanoSensors由原IBM公司的纳米技术专家Oladf Wolter博士于1991年创建。NanoSensors公司是世界上重要的面对全球提供高品质原子力AFM探针的厂家。
NanoSensors出产的针尖曲率半径小于10nm的原子力AFM硅探针，对世界上许多重大的科学成果贡献良多。在多年间，NanoSensors不断创新技术，扩展了AFM探针的种类，并获得多个国际奖项。
2002年，NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集团，继续坚持为全球研究者提供最高品质的原子力探针。
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NanoSensors常用的产品
PPP-NCHR
轻敲模式/非接触模式探针，每个基片有一个长方形悬臂，共振频率330kHz，弹性系数42N/m，针尖曲率半径<10nm，背面镀铝反射层。
PPP-CONTR
接触模式探针，每个基片有一个长方形悬臂，共振频率13kHz，弹性系数0.2N/m，针尖曲率半径<10nm，背面镀铝反射层。
PPP-MFMR
用于磁力显微镜测量，每个基片有一个长方形悬臂，共振频率75kHz，弹性系数2.8N/m，针尖曲率半径<50nm，针尖镀硬磁性材料镀层。
NanoSensors产品概览
PointProbe Plus (PPP)系列——常用探针
PointProbe Plus系列探针为NanoSensors的最被广泛使用的探针，适用于大部分的应用及商品化的AFM。
PointProbe Plus系列探针的针尖典型曲率半径为小于7nm，可实现高分辨率的应用。整个系列保证了高品质及高稳定性。
SuperSharp Silicon (SSS)系列——超尖探针
SuperSharp Silicon系列探针使用特别的针尖制作技术生产，专门为超高分辨的成像所设计。
SuperSharp Silicon系列探针的针尖典型曲率半径为小于2nm，实现超高分辨率的应用。整个系列保证了高品质及高稳定性。
High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列——高长径比探针
AR系列探针专门为测量具有大长径比或垂直台阶结构的样品而设计。
AR系列探针具有接近垂直的针尖，总体针尖长度达到10-15um，针尖的曲率半径小于5度（AR10小于2.8度）。
Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列——金刚石镀层探针
DT(金刚石)和CDT(导电金刚石)系列探针适用于针尖与样品之间需要大接触力的情况，同样也应用于摩擦力测量、样品弹性测量等。
MFM——磁力显微镜探针
多种规格（硬磁或软磁）的磁力显微镜探针专门为不同的材料及应用而设计。所有探针的磁性镀层，均具有优越的稳定性。
Carbon Nanotube (CNT)系列——碳纳米管探针
Carbon Nanotube探针是专门为需要超高分辨率、高速扫描及弱探针-样品作用力的应用而设计的。
碳纳米管探针使用化学沉积的方法，在PPP系列针尖的最尖端处，生长出碳纳米管，从而具有最小的针尖曲率半径、超高的长径比及极佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探针中，能获得最高的分辨率。
AdvancedTEC (ATEC)系列——可视化探针
AdvancedTEC系列探针，在悬臂的最边缘处具有四面体形状的针尖。这种独有的技术使得ATEC系列探针可以从上方观察到针尖的探针，从而使得用户可以获得精确的针尖-样品定位。
Plateau (PL)系列
Plateau系列探针，使用离子束切割技术，将传统锥形的针尖弄钝，在针尖处形成一个直径为1.8μm的圆形平台，为用户的特殊应用提供了个性化的探针。
Transfer Standards /Calibration Standards 标准样品
NanoSensors提供的高精度标准样品包括：
- 二维正交标准样品：周期分别为100nm、200nm和300nm。
- 高度标准样品：台阶高度为8nm。
- 粗糙度标准样品：100um以内的峰峰值小于10nm。
